代表者紹介

1984年　横河ヒューレット・パッカード株式会社（現アジレント・テクノロジー株式会社）に入社し、
IC テスター開発において、主に高速デジタル回路設計を担当。
その後、半導体パラメトリックテスターの開発において、フラッシュメモリ対応および微小電流測定用マトリクス等の開発に従事。

1996年　半導体パラメトリックテスターの顧客担当システムエンジニアとして、
大手半導体メーカーにおけるテスターのサービス・サポートを担当し、
それと並行して、2000年以降には、300mm ウエハー工場自動化のための専門エンジニアとして、
顧客の生産管理システムとパラメトリックテスター及びプローバ間の SECS/GEM通信 ( SEMI 規格 ) に関する業務を担当。
日本の主要な 300mm ウエハー工場における半導体パラメトリックテストシステムの立ち上げに従事。

2009年　アジレント・テクノロジー株式会社を退職し、株式会社自動計測を起業。